介質(zhì)損耗測試儀其工作原理為，啟動測量后高壓設(shè)定值送到變頻電源，變頻電源用PID算法將輸出緩速調(diào)整到設(shè)定值，測量電路將實(shí)測高壓送到變頻電源，微調(diào)低壓，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確高壓輸出。 介質(zhì)在電壓作用下有能量損耗。一種是由電導(dǎo)引起的損耗；另一種是由某種極化引起的損耗，如極性介質(zhì)中偶極子轉(zhuǎn)向極化等。電介質(zhì)在電壓作用下的能量損耗簡稱介質(zhì)損耗。 在直流電壓下，由于介質(zhì)中沒有周期性的極化過程，因此，當(dāng)外施電壓低于發(fā)生局部放電的電壓時，介質(zhì)中的損耗僅由電導(dǎo)所引起，這時用體積電導(dǎo)率和表面電導(dǎo)率兩個物理量已能夠表達(dá)，所以直流電壓下不需要再引入介質(zhì)損耗這個概念。 在交流電壓下，除電導(dǎo)損耗外，還由于周期性的極化而引起能量損耗。設(shè)有交流電壓。作用于某介質(zhì)。由于介質(zhì)中有損耗，所以電流/不是純粹的電容電流，而是包含有功和無功兩個分量ir和ic，即：i=ir+ic。 所以電源供給的視在功率W=P+jQ=U（Ir+jIc）=UIr+jUIc。于是介質(zhì)損耗P=Qtanδ，δ稱介質(zhì)損失角，它是功率因數(shù)角的余角。等值電路只有計算上的意義，因?yàn)樗荒艽_切地反映物理過程。 在電壓很高或頻率很高的場合，介質(zhì)損耗將增加，引起介質(zhì)的溫度上升，絕緣的電氣性能下降，介質(zhì)損耗的程度可以用介質(zhì)損失角正切tanδ來表示。它是一個只與材料特性有關(guān)，而與材料尺寸或所加電壓無關(guān)的物理量。 我司的介質(zhì)損耗測試儀采用高頻感應(yīng)爐加熱，開機(jī)啟動后溫控CPU通過手動操作發(fā)出加熱命令，系統(tǒng)提取內(nèi)部溫度傳感器的溫度平均值，在溫度較低時加大功率節(jié)省時間；待溫度升至預(yù)定溫度時，減小功率。這種加熱技術(shù)有利于受熱均勻。 |
